Platinum Teknoloji
Test Yöntemleri 5 dk okumaGüncelleme: 7 Temmuz 2026

JTAG / Boundary-Scan ile Kart Testi

JTAG (IEEE 1149.1) olarak bilinen boundary-scan, entegre devrelerin pinlerine yerleştirilen özel hücreler üzerinden fiziksel prob erişimi olmadan bağlantıları test etmeyi sağlayan bir yöntemdir. BGA, QFN ve yoğun çok katmanlı kartlarda, lehim toplarının altındaki bağlantıların doğrulanmasında kritik rol oynar.

Boundary-scan hücreleri ve zincir

JTAG destekli her entegrenin giriş/çıkış pinlerinde birer 'boundary-scan cell' bulunur. Bu hücreler bir kaydırma zinciri (scan chain) oluşturur; TAP (Test Access Port) üzerinden veri kaydırılarak pin durumları okunur ve sürülür. Böylece kart üzerindeki bağlantılar, fiziksel prob değmeden dijital olarak test edilebilir.

Neyi test eder?

  • Açık devre (soğuk lehim, kırık iz, eksik top) ve kısa devre (köprüleme).
  • IDCODE ile entegre kimliği ve zincir bütünlüğü kontrolü.
  • BGA/FPGA/DSP altındaki erişilemeyen net'lerin bağlantı doğrulaması.
  • Uygun cihazlarda flash/bellek erişimi ve in-system programming (ISP).

BSDL dosyalarının rolü

Her JTAG'li entegrenin boundary-scan davranışı, üreticinin sağladığı BSDL (Boundary-Scan Description Language) dosyasında tanımlıdır. Test yazılımı bu dosyalarla zinciri modelleyerek hangi pinin hangi net'e bağlı olduğunu bilir. Doğru BSDL olmadan güvenilir bir connection test kurulamaz.

Sınırları

Boundary-scan yalnızca JTAG destekli entegrelerin kapsadığı net'leri görebilir; analog bölgeler, JTAG'siz bileşenler ve dinamik/zamanlama arızaları kapsam dışıdır. Bu nedenle VI analizi, aktif ölçüm ve fonksiyonel testle birlikte kullanılır.

Öne Çıkanlar

  • Boundary-scan, BGA altındaki erişilemeyen bağlantıları prob değmeden test eder.
  • Doğru BSDL dosyaları güvenilir bir connection test için şarttır.
  • Kapsamı JTAG'li net'lerle sınırlıdır; diğer yöntemlerle tamamlanır.